EN 60444-8:2017
(Main)Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
IEC 60444-8:2016(E) describes test fixtures suitable for leadless surface mounted quartz crystal units in enclosures as defined in IEC 61837 (all parts). These fixtures allow the measurement of (series) resonance frequency, (series) resonance resistance, and equivalent electrical circuit parameters L1, C1 and C0 using the measurement techniques specified in IEC 60444-5 and for the determination of load resonance frequency and load resonance resistance according to IEC TR 60444-4 and IEC 60444-11. Two test fixtures are described in this document: 1) A fixture using the p-network circuit with electrical values as described in IEC 60444-1 for measurements in transmission mode up to 500 MHz. This fixture includes optional means to add physical load capacitors for the measurement of load resonance parameters up to 30 MHz in accordance with IEC 60444-4. The range of load capacitance is 10 pF or more. Calibration of the measurement system and CL adapter board is explained hereinafter. 2) A fixture based on the reflection method, suitable for a frequency range up to 1 200 MHz. No provisions for adding a physical load capacitance are anticipated. Load resonance parameters can be measured by using the method of IEC 60444-11. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) modification of Clause 1; b) modification of 5.2; c) modification of 5.3; d) modification of 5.4; e) 6.3 Calibration of the reflection measurement system.
Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 8: Prüfaufbau für oberflächenmontierbare Schwingquarze
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface
L'IEC 60444-8:2016 spécifie les dispositifs d'essai appropriés aux résonateurs à quartz sans sorties montés en surface dans des enveloppes tels que définis dans l'IEC 61837 (toutes les parties). Ces dispositifs permettent de mesurer les paramètres de fréquence de résonance (en série), de résistance de résonance (en série) et de circuit électrique équivalents L1, C1 et C0 à l'aide des techniques de mesure spécifiées dans l'IEC 60444-5. Ils permettent également de déterminer la fréquence de résonance à la charge et la résistance de résonance à la charge selon l'IEC TR 60444-4 et l'IEC 60444-11. Deux dispositifs d'essai sont spécifiés dans le présent document: 1) Un dispositif utilisant le circuit en p avec des valeurs électriques telles que décrites dans l'IEC 60444-1 pour les mesurages en mode de transmission jusqu'à 500 MHz. Ce dispositif comprend des moyens facultatifs permettant d’ajouter des condensateurs de charge physique pour le mesurage des paramètres de résonance à la charge jusqu'à 30 MHz conformément à l'IEC 60444-4. La plage de la capacité de charge est de 10 pF ou plus. L'étalonnage du système de mesure et de la carte d'adaptateur CL est décrit ci-après. 2) Un dispositif fonctionnant selon la méthode de réflexion, approprié pour une plage de fréquences jusqu'à 1 200 MHz. Aucune disposition concernant l'ajout d'une capacité de charge physique n'est prévue. Les paramètres de résonance à la charge peuvent être mesurés en utilisant la méthode spécifiée dans l'IEC 60444-11. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente: a) modification de l'Article 1; b) modification du 5.2; c) modification du 5.3; d) modification du 5.4; e) 6.3 Étalonnage du système de mesure de réflexion.
Merjenje parametrov kvarčnih kristalov - 8. del: Preskusna pritrditev za enoto kvarčnih kristalov za površinsko montažo (IEC 60444-8:2016)
Ta del standarda IEC 60444 opisuje preskusne pritrditve, primerne za enote kvarčnih kristalov za površinsko montažo v ohišja, kot je opredeljeno v standardu IEC 61837 (vsi deli). Te pritrditve omogočajo merjenje (serijske) resonančne frekvence, (serijskega) resonančnega upora ter enakovrednih parametrov električnega tokokroga L1, C1 in C0 z merilnimi tehnikami, določenimi v standardu IEC 60444-5, ter ugotavljanje resonančne frekvence obremenitve in resonančnega upora obremenitve v skladu s standardoma IEC TR 60444-4 in IEC 60444-11.
V tem dokumentu sta opisani dve preskusni pritrditvi:
1) Pritrditev s π-omrežnim tokokrogom z električnimi vrednostmi, kot je opisano v standardu IEC 60444-1, za meritve in način prenosa do vključno 500 MHz. Te pritrditve vključujejo izbirna sredstva za dodajanje fizičnih kondenzatorjev bremena za merjenje resonančnih parametrov obremenitve do vključno 30 MHz v skladu s standardom IEC 60444-4. Razpon kapacitivnosti obremenitve je 10 pF ali več. Umerjanje merilnega sistema in vmesniških plošč CL je razloženo v nadaljevanju. 2) Pritrditev, ki temelji na odbojni metodi, primerna za frekvenčni razpon do vključno 1200 MHz. Ukrepi za dodajanje fizične kapacitivnosti obremenitve niso predvideni. Parametre resonančne obremenitve je mogoče izmeriti z uporabo metode iz standarda IEC 60444-11.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
SLOVENSKI STANDARD
SIST EN 60444-8:2017
01-junij-2017
1DGRPHãþD
SIST EN 60444-8:2004
0HUMHQMHSDUDPHWURYNYDUþQLKNULVWDORYGHO 3UHVNXVQDSULWUGLWHY]DHQRWR
NYDUþQLKNULVWDORY]DSRYUãLQVNRPRQWDåR ,(&
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted
quartz crystal units (IEC 60444-8:2016)
Ta slovenski standard je istoveten z: EN 60444-8:2017
ICS:
31.140 3LH]RHOHNWULþQHQDSUDYH Piezoelectric devices
SIST EN 60444-8:2017 en
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.
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SIST EN 60444-8:2017
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SIST EN 60444-8:2017
EUROPEAN STANDARD EN 60444-8
NORME EUROPÉENNE
EUROPÄISCHE NORM
April 2017
ICS 31.140 Supersedes EN 60444-8:2003
English Version
Measurement of quartz crystal unit parameters -
Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
(IEC 60444-8:2016)
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Messung von Schwingquarz-Parametern -
Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs Teil 8: Prüfaufbau für oberflächenmontierbare
à quartz montés en surface Schwingquarze
(IEC 60444-8:2016) (IEC 60444-8:2016)
This European Standard was approved by CENELEC on 2017-01-19. CENELEC members are bound to comply with the CEN/CENELEC
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Ref. No. EN 60444-8:2017 E
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SIST EN 60444-8:2017
EN 60444-8:2017
European foreword
The text of document 49/1126/CDV, future edition 2 of IEC 60444-8, prepared by IEC/TC 49
"Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control,
selection and detection" was submitted to the IEC-CENELEC parallel vote and approved by
CENELEC as EN 60444-8:2017.
The following dates are fixed:
• latest date by which the document has to be implemented at (dop) 2017-10-19
national level by publication of an identical national
standard or by endorsement
(dow) 2020-01-19
• latest date by which the national standards conflicting with
the document have to be withdrawn
This document supersedes EN 60444-8:2003.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. CENELEC [and/or CEN] shall not be held responsible for identifying any or all such
patent rights.
This document has been prepared under a mandate given to CENELEC by the European Commission
and the European Free Trade Association.
Endorsement notice
The text of the International Standard IEC 60444-8:2016 was approved by CENELEC as a European
Standard without any modification.
In the official version, for Bibliography, the following notes have to be added for the standards indicated:
IEC 60122-1 NOTE Harmonized as EN 60122-1.
IEC 60444-1:1986 NOTE Harmonized as EN 60444-1:1997 (not modified).
IEC 60444-2 NOTE Harmonized as EN 60444-2.
IEC 60444-6 NOTE Harmonized as EN 60444-6.
IEC 60444-7 NOTE Harmonized as EN 60444-7.
IEC 60444-9 NOTE Harmonized as EN 60444-9.
IEC 61837-1 NOTE Harmonized as EN 61837-1.
IEC 61837-2 NOTE Harmonized as EN 61837-2.
IEC 61837-3 NOTE Harmonized as EN 61837-3.
IEC 61837 NOTE Harmonized in EN 61837 series.
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SIST EN 60444-8:2017
EN 60444-8:2017
Annex ZA
(normative)
Normative references to international publications
with their corresponding European publications
The following documents, in w
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.